Microscopio (SEM)

Microscopio electrónico de barrido

¿Qué es un microscopio electrónico de barrido (MEB)?

El microscopio electrónico de barrido (o SEM, de Scanning Electron Microscopy), es aquel que usa electrones en lugar de luz para formar imágenes de alta resolución, lo que significa que detalles espacialmente cercanos en la muestra pueden ser examinados a muchos aumentos, permitiendo una aproximación profunda al mundo atómico en materiales pétreos, metálicos, orgánicos, etc. Su resolución está entre 3 y 20 nanómetros (10-9 m), dependiendo del microscopio, mientras que con el óptico es de 0,2 micrómetros (10-6 m). La figura 1 muestra los distintos tipos de células y componentes que pueden ser vistas con el microscopio electrónico y con el microscopio óptico.

000

Figura 1.- Comparación de la resolución entre microscopio óptico y electrónico

¿Cómo es su funcionamiento?

En este tipo de microscopio la luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por electroimanes (Figura 2) y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie. Un detector recoge y amplifica la señal emitida por la interacción del haz de electrones incidente con la muestra y en un tubo de rayos catódicos (TV) se forma la imagen en tres dimensiones para ser observada y fotografiada. Existe una sincronización entre movimiento de barrido del haz de electrones a través de la muestra y el movimiento del haz de rayos catódicos por lo que se produce una representación punto a punto del área explorada (Figura 3).


Figura 2.- Arquitectura de un SEM	Figura 3.- Formación de la imagen en un SEM

Al incidir el haz de electrones sobre la muestra, interactúa con ella y se producen diversos fenómenos que serán captados y visualizados en función del detector que utilicemos. Entre las señales generadas en un SEM (Figura 4) cabe destacar los electrones secundarios que proporcionan una valiosa información topográfica de la muestra, los electrones retrodispersados que nos permiten conocer la composición superficial de la muestra y los rayos X que facilitan información analítica de la misma (Figura 5).

Figura 4.- Interacción electrón-muestra

Imagen electrones secundarios

Imagen electrones retrodispersados

Espectro de rayos X de una muestra de Cu y Zn

Figura 5.- Señales generadas en un SEM

"Pasar el ratón sobre la imagen para descripción"

Imágenes tomadas con el microscopio electrónico de barrido (MEB)

avest-02